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Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖佟⒁子煤统逦鷪D像質量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。